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產品分類SPECT-100 nir1 近紅外光譜相機(光譜成像單元) 600-1100 nm(機器視覺) 產品總覽 SPECT-100 vis nir1 nir2型光譜成像單元,光譜成像是一種通過二維捕捉物體,獲取、分析和顯示物體各部分光譜信息的技術。通過光譜分析每個部分的數據,可以獲得材料的物理和化學信息并將其顯示為圖像。
極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) (顯微OCT掃頻測振) 產品總覽 三維無損成像技術在材料科學和醫學等許多應用領域都非常重要。我們開發了一種成像技術,利用極紫外和軟x射線輻射來獲得納米分辨率的橫截面圖像。 例如,我們能夠無損地研究硅片或生物樣品中的近表面結構。
可見光 空間分辨率光譜儀 380-780nm 產品總覽 空間分辨率光譜儀SRS1-vis(可見光型)
軟磁層評價系統 BH-618HS-P20( 顯微鏡/測振/磁光克爾) 產品總覽 軟磁層的非接觸式評估系統,例如具有映射和傾斜角測量功能的硬盤介質中的 SUL。
垂直磁記錄介質評價體系 BH-810CPC( 顯微鏡/測振/磁光克爾) 產品總覽 具有映射評估功能的硬盤垂直記錄介質(PMR)非接觸評估系統。