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當前位置：首頁產品中心光學測量儀器光束/光斑質量分析儀

  • MP-S-WCD-IR-BB-7.5WinCamD-IR-BB 中遠紅外光束質量分析儀 2-16um 7.5Hz

    WinCamD-IR-BB 中遠紅外光束質量分析儀 2-16um 7.5Hz 中遠紅外光束質量分析儀基于相機的光束分析系統是使用極廣泛的，它無法獲得最高分辨率，但是對于低重復頻率脈沖激光、非高斯形狀光束或者一般用途的光束分析應用，相機型光束分析儀是很好的選擇。此外，Dataray光束質量分析儀通用的C/F-Mount接口設計，使外加衰減片、擴束鏡、紫外轉換裝置、紅外轉換裝置更為方便。

    更新時間：2025-01-14
    產品型號：MP-S-WCD-IR-BB-7.5
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  • 超寬中紅外光束質量分析儀(不帶M2測試，光敏面：15.3×12.2mm)

    超寬中紅外光束質量分析儀(不帶M2測試，光敏面：15.3×12.2mm) 產品描述： 筱曉光子的紅外光束質量分析儀，可以實現1.2-15μm范圍內的光斑探測和參數分析，空間分析精度可達10μm量級，具有超感光范圍、超大靶面、超高分辨率、多功能軟件等特點。

    更新時間：2024-12-09
    產品型號：
    瀏覽量：1346
  • BAB1G超寬中紅外光束質量分析儀(帶M2測試，光敏面：10.8×8.7mm)

    超寬中紅外光束質量分析儀(帶M2測試，光敏面：10.8×8.7mm) 筱曉光子的紅外光束質量分析儀，可以實現1.2-15μm范圍內的光斑探測和參數分析，空間分析精度可達10μm量級，具有超感光范圍、超大靶面、超高分辨率、多功能軟件等特點。

    更新時間：2025-06-04
    產品型號：BAB1G
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  • BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm

    BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產品應用 連續激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間：2024-12-09
    產品型號：
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  • BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm

    BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產品應用 連續激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間：2024-12-09
    產品型號：
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